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日本Kett 手提型膜厚計 LE-370
機型：LE-370
LE-370用于鋼、鐵等磁性金屬物上的電鍍（電解鎳除外）或涂裝等的非磁性被膜之膜厚測量。
370系列皆可將資料打印或轉(zhuǎn)送計算機儲存；機體搭載有16項功能，并備有專用打印機、測量臺、外部輸出線及資料管理軟件供選購利用。
特色：
中文界面
具備中文、日文、英文、韓文四種操作語言顯示，操作簡單明了。
100組檢量曲線記憶容量
使用者可將所有工件分類，將檢量曲線各別建立，開機即可上使用，不需再校正。
測量值具查閱功能
工作現(xiàn)場的量測值*多可記憶3,000筆，使用者可在「刪除數(shù)據(jù)」功能下，一一查閱每一筆測量值。
具統(tǒng)計平均功能
統(tǒng)計計算范圍可由使用者自行設定，統(tǒng)計計算*大值、*小值、平均值及標準差值。
具連續(xù)掃瞄測量功能
370系列膜厚計搭載「單點測量」及「連續(xù)測量」功能，廣用于各種表面狀況及排除測量爭議。
具資料傳輸功能
測量數(shù)值可外接專用打印機VZ-330(選購)或外接計算機。測量時實時傳輸或測量后一并傳輸皆可。
規(guī)格：
日本KETT 手提型膜厚計 LE-370 | |
測量方式 | 電磁誘導式 |
測量對象 | 磁性金屬上非磁性被膜 |
測量范圍 | 0～2,500μm或0～99.0mils |
測頭型式 | 單點接觸定壓式（LEP-J） |
*小測量 | 3x3mm |
測量精度 | 50μm以下：±1μm |
分辨率 | 100μm以下：0.1μm |
檢量曲線 | 100組檢量曲線記憶 |
資料記憶數(shù) | 約3,000筆，資料具查閱功能 |
測量功能 | 具單點測試、連續(xù)掃瞄測試，可測試膜厚分布變化 |
顯示方式 | 背光式LCD(180x64dots)數(shù)位顯示 |
外部輸出 | 可將資料輸出至個人計算機或?qū)Ｓ么蛴C（RS-232C) |
電 源 | 單3堿性電池x4顆 |
電力消耗 | 80mW(當背光關閉時) |
電池壽命 | 約100小時(連續(xù)使用，背光關閉時) |
操作環(huán)境 | 0～40℃ |
應用功能 | 檢量線選擇、素材補正、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統(tǒng)計計算(測量次數(shù)、平均值、標準偏差、*大值、*小值)、顯示選擇、日期時間、自動關機時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號區(qū)分、測量方式、維修模式等功能 |
尺 寸 | W75xD140xH31(mm) |
重 量 | 約340g |
標準配件 | 標準片盒子、單3號堿性電池1.5Vx4顆、曲面固定器、攜帶皮套 |
專屬配件 | 鐵素材(FE370)、標準片6片組(10μm、50μm、100μm、500μm、1,000μm、1,500μm) |
選購配備 | 標準片(配件以外的厚度)、膜厚計測臺LW-990、USB計算機傳輸線、專用打印機VZ-330、打印機專用傳輸線、RS-232C&USB轉(zhuǎn)換線、資料管理軟件LDL-02、資料管理軟件McWAVE系列 |
